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IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY

來源: 樹人論文網 瀏覽次數:231次
周期:Quarterly
ISSN:1530-4388
影響因子:1.583
是否開源:No
年文章量:98
錄用比:較易
學科方向:工程:電子與電氣
研究方向:工程技術
通訊地址:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
官網地址:http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=7298
投稿地址:http://mc.manuscriptcentral.com/tdmr
網友分享經驗:較慢,6-12周

IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY雜志中文介紹

IEEE設備和材料可靠性事務季刊。它提供對可靠電子設備和材料的創造至關重要的前沿信息,并在電子設備及其制造中使用的材料的可靠性方面成為跨學科交流的重點。它側重于電子、光學、磁器件和微系統的可靠性;用于制造這些裝置的材料和工藝;以及這些材料的界面和表面。

IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY雜志英文介紹

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability is published quarterly. It provides leading edge information that is critical to the creation of reliable electronic devices and materials, and a focus for interdisciplinary communication in the state of the art of reliability of electronic devices, and the materials used in their manufacture. It focuses on the reliability of electronic, optical, and magnetic devices, and microsystems; the materials and processes used in the manufacture of these devices; and the interfaces and surfaces of these materials.

IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY影響因子

IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY影響因子1.9471.4831.5431.5161.5441.891.4371.5751.5121.583IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY2010年2011年2012年2013年2014年2015年2016年2017年2018年2019年1.41.51.61.71.81.92中科院JCR分區趨勢圖樹人論文網(istpei.com)
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