期刊英文名稱：Electronic Test

主辦單位：北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所

期刊周期：月刊

出版地：北京市

期刊語(yǔ)言：中文

雜志尺寸：大16開(kāi)

創(chuàng)刊時(shí)間：1994

國(guó)際刊號(hào)：1000-8519

國(guó)內(nèi)刊號(hào)：11-3927/TN

影響因子：0.536

綜合影響因子：0.289

雜志主編：于韶光

期刊定價(jià)：10元/期

數(shù)據(jù)庫(kù)收錄：國(guó)家新聞出版總署收錄、《中國(guó)核心期刊（遴選）數(shù)據(jù)庫(kù)》、《中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù)》、《中文科技期刊數(shù)據(jù)庫(kù)》、中國(guó)知網(wǎng)收錄期刊、維普中文期刊全文收錄、萬(wàn)方數(shù)據(jù)庫(kù)全文收錄期刊。
期刊榮譽(yù)：
ASPT來(lái)源刊
中國(guó)期刊網(wǎng)來(lái)源刊

期刊欄目：主要欄目：產(chǎn)品采購(gòu)特集、主板技術(shù)通報(bào)、新上市主板介紹、新品評(píng)測(cè)特集、市場(chǎng)部特別企劃、新軟件、新硬件、新游戲。

聯(lián)系方式：地址：北京海淀區(qū)上地十街1號(hào)院輝煌國(guó)際廣場(chǎng)1號(hào)樓1708室
郵編：100085
電話：010-59713435

論文目錄：1、數(shù)字測(cè)厚儀的制作陳潔
2、SMT測(cè)試技術(shù)綜述鮮飛
3、SMT焊接缺陷研究胥路平;李軍
4、高壓直流電源輸出參數(shù)的測(cè)量劉開(kāi)緒
5、基于RVM的SOC驗(yàn)證方法與技術(shù)常勇
6、基于GPON的多業(yè)務(wù)承載系統(tǒng)研究石振榮
7、基于MATLAB的室內(nèi)溫度數(shù)據(jù)采集高秋燕
8、Intel 8254在智能相位測(cè)量?jī)x中的應(yīng)用譚永紅;雷躍
9、基于特征點(diǎn)能量?jī)?yōu)化的樣條插值地形算法原慶紅;韓燮
10、一種射頻有源標(biāo)簽充電器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)石封